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產(chǎn)品中心
| 品牌 | 其他品牌 | 儀器種類(lèi) | 臺式 |
|---|---|---|---|
| 激發(fā)方式 | 火花 | 價(jià)格區間 | 面議 |
| 檢測器類(lèi) | 其他 | 應用領(lǐng)域 | 電子,交通,冶金,航天,汽車(chē) |
SPECTROLAB S直讀光譜儀
作為電弧/火花創(chuàng )新技術(shù)的**者，40多年來(lái)，SPECTRO全心投入開(kāi)發(fā)出**的發(fā)射光譜儀。今天，斯派克公司完美引入CMOS探測器技術(shù)，*改變了高*電弧/火花分析技術(shù)的走向及未來(lái)。在所有同類(lèi)分析儀中，SPECTROLAB S所提供分析速度超出想象，元素檢測限低*限，同時(shí)她也可以提供很長(cháng)的正常運行時(shí)間和非常具有前瞻性的靈活性。
SPECTROLAB S 擁有**個(gè)基于CMOS的探測器的記錄系統，該系統非常適合于高*金屬分析。從微量元素到多基體應用，它提供了非常快速、高度準確、異常靈活的技術(shù)選擇。樣品的分析速度是儀器先進(jìn)性的重要標志，SPECTROLAB S的推出*了金屬分析市場(chǎng)對速度的需求。例如：當檢測低合金鋼時(shí)，它可以在20秒或更短的時(shí)間內提供高準確度的測量值！從技術(shù)指標和實(shí)際使用效果看，SPECTROLAB S均是目前金屬冶煉廠(chǎng)*選的、高性能的光譜儀。對于金屬再加工生產(chǎn)商、汽車(chē)和航空航天制造商、以及成品和半成品、電子產(chǎn)品、半導體等制造商來(lái)說(shuō)，她給出的解決方案同樣出色。
關(guān)鍵特性：
?20秒內獲得高準確度的結果（例如：低合金鋼）
?定期維護的工作量（火花臺清洗）減少8倍
?元素在低合金鋼中平均檢測限改善2倍，元素在純鋁中的平均檢測限改善5倍
?儀器的占地面積減少27%
?單一標樣實(shí)現整個(gè)系統的標準化, 此項每天可節省30分鐘工作時(shí)間
1、獨立雙光室，確保所有分析譜線(xiàn)都獲得**分辨率。
SPECTROLAB S 配備兩套完整的光學(xué)系統。一個(gè)光室準確測量波長(cháng)從120到240納米（nm）;另一個(gè)光室，波長(cháng)范圍從210到800納米（nm）。 兩個(gè)光室都采用先進(jìn)的CMOS檢測器，具備恒溫裝置和壓力補償功能
2、等離子發(fā)生器數字光源和點(diǎn)火板
可靠的新型高能LDMOS等離子發(fā)生器光源，為SPECTROLAB S 輸出非常穩定的火花放電，頻率*高1000 Hz。結果：*短的測量時(shí)間（例如：分析低合金鋼小于 20 秒）。該系統還允許特定應用的火花參數設置，以?xún)?yōu)化分析性能。
3、精密氬氣控制系統
SPECTROLAB S 采用全新程控流量。軟件根據分析程序精密設置氬氣流量。節約了氬氣消耗。氬氣閥體直接耦合到火花臺，無(wú)需管道連接。避免漏氣。
4、火花臺清理間隔大大延長(cháng)
堅固的陶瓷內芯避免積塵粘附。流暢的氣路設計確保了很少的粉塵殘留（使得清理間隔時(shí)間延長(cháng)了8倍）；對于大樣品量輸出的全自動(dòng)光譜儀系統尤為重要。
5、快速讀出系統
斯派克的GigE創(chuàng )新讀出系統確保海量數據的快速處理，從而支持**的儀器性能表現。實(shí)現了*的全光譜范圍譜圖記錄。
6、低檢出限。
SPECTROLAB S 采用的 CMOS+T技術(shù)，在關(guān)鍵元素的檢測限方面，超越光電倍增管技術(shù)的性能。通過(guò)配置**參比通道，工作曲線(xiàn)可以很大程度獲得優(yōu)化。可以快速定量分析ppm量級的高純金屬或合金中的痕量元素。
